無損探傷檢測(cè)，簡(jiǎn)單來說，就是借助聲、光、電、磁等物理特性，在不損害材料本身的基礎(chǔ)上，對(duì)其表面、近表面以及內(nèi)部的各種缺陷進(jìn)行檢測(cè)。通過這種方式，我們可以獲取到缺陷的位置、大小、數(shù)量、性質(zhì)等關(guān)鍵信息，進(jìn)而對(duì)材料的技術(shù)狀態(tài)做出準(zhǔn)確判斷。值得注意的是，無損檢測(cè)并不會(huì)改變材料未來的使用性能。接下來，我們將介紹五種常見的無損探傷檢測(cè)方法。首先，就是超聲波探傷（UT）。
脈沖反射法原理
超聲波探傷（UT）是一種有效的無損探傷方法，其原理基于脈沖反射法。這種方法能夠較準(zhǔn)確地定位工件內(nèi)部的缺陷，同時(shí)對(duì)面積型缺陷具有較高的敏感性，且成本低廉、檢測(cè)速度快，對(duì)人體和環(huán)境無害。然而，超聲波在真空中無法傳播，且在空氣中傳播時(shí)容易發(fā)生損耗和散射，因此在實(shí)際應(yīng)用中，需要借助耦合劑來確保超聲波能夠有效地傳遞到被檢測(cè)材料中。
二、磁粉探傷（MT）
磁粉探傷是一種通過施加磁場(chǎng)磁化被檢測(cè)材料，并觀察磁粉在工件表面的分布變化來分析判斷材料缺陷的方法。這種方法特別適用于檢測(cè)鐵磁性工件表面或近表面間隙極窄的裂紋，以及目視難以察覺的缺陷。
磁粉探傷的直觀性與局限性
磁粉探傷方法以其直觀性著稱，能夠清晰地顯示出被檢測(cè)材料的不連續(xù)處磁痕分布及漏磁場(chǎng)。然而，其應(yīng)用范圍相對(duì)有限，主要適用于鐵磁性工件的檢測(cè)，且難以深入探測(cè)工件內(nèi)部的缺陷，因此檢測(cè)的精確度相對(duì)較低。
三、X射線探傷（RT）
X射線，作為一種頻率高、波長(zhǎng)短、能量強(qiáng)大的電磁波，具備穿透可見光無法穿透的物體的能力。在穿透過程中，它還會(huì)與物質(zhì)發(fā)生一系列復(fù)雜的物理和化學(xué)反應(yīng)，如原子電離和物質(zhì)激發(fā)等。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí)，這些缺陷會(huì)改變物體對(duì)射線的吸收和散射，進(jìn)而導(dǎo)致透射射線的強(qiáng)度發(fā)生變化。通過特定的檢測(cè)手段，例如使用膠片記錄透射線的感光程度，我們可以判斷工件是否存在缺陷，并進(jìn)一步確定缺陷的位置和大小。在操作過程中，必須嚴(yán)格遵守X射線檢測(cè)的安全規(guī)程，以確保人員和設(shè)備的安全。
X射線探傷的原理及局限性
X射線檢測(cè)技術(shù)以其精準(zhǔn)的成像和直觀的透視效果而聞名。它能迅速生成檢測(cè)圖像，對(duì)工件內(nèi)部進(jìn)行無損探傷，甚至能夠穿透較薄的工件進(jìn)行深入檢測(cè)。通過觀察穿透射線的衰減情況，我們可以發(fā)現(xiàn)圖像中的局部差異，從而判斷工件是否存在缺陷。然而，這種技術(shù)并非萬能，對(duì)于密度差異較小的工件，其檢測(cè)效果可能并不理想。同時(shí)，X射線對(duì)人體具有一定的潛在危害，因此在操作過程中必須嚴(yán)格遵守安全規(guī)范。
四。滲透探傷（PT）
滲透探傷的原理基于液體的毛細(xì)現(xiàn)象和固體染料在特定條件下的發(fā)光特性，它是對(duì)工件表面缺陷進(jìn)行分析判斷的一種方法。在毛細(xì)力的作用下，滲透劑能夠滲入工件表面的開口缺陷中。去除多余滲透劑并干燥后，通過涂抹顯像劑，在紫外光或白光的照射下，缺陷處的滲透液痕跡會(huì)顯現(xiàn)為黃綠色熒光或鮮艷的紅色，從而揭示出缺陷的形狀和分布。滲透探傷包括著色滲透和熒光滲透兩種方法，廣泛應(yīng)用于檢測(cè)黑色和有色金屬的鍛件、鑄件、焊接件、機(jī)加工件，以及陶瓷、玻璃、塑料等材料的表面缺陷。它能夠檢測(cè)出裂紋、冷隔、夾雜、疏松、折疊、氣孔等缺陷，但不適用于結(jié)構(gòu)疏松的粉末冶金零件和多孔性材料。
五、渦流探傷（ET）
渦流檢測(cè)技術(shù)基于電磁感應(yīng)原理。當(dāng)載有交變電流的試驗(yàn)線圈接近導(dǎo)體工件時(shí)，線圈產(chǎn)生的交變磁場(chǎng)會(huì)在導(dǎo)體中感生出電流，即渦流。這些渦流的大小、相位及其流動(dòng)方式會(huì)受到工件多種特性（如電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀和尺寸）以及是否存在缺陷的影響，從而引起線圈電壓和阻抗的變化。通過相關(guān)儀器測(cè)量這些變化，我們就可以推斷出被檢測(cè)工件的性質(zhì)、狀態(tài)以及是否存在缺陷。
